Aplikace analytických metod pro:
Analýzu celkového složení (bulk analysis):
•   Jiskrové a oblouková OES
•   LIBS
•   Grimm OES
•   Jiskrová a laserová ablace + ICP-OES (ICP-MS)
•   RTG fluorescenční spektrometrie
•   Jiskrová MS
•   Grimm+MS (GD-MS)
•   RTG spektrometrie
Lokální mikroanalýzu:
•   RTG spektrometrie primárního záření
•   Augerova elektronová spektrometrie
•   LA-ICP-MS (OES)
•   LAMMA, SIMS, SEM
Analýzu povrchových vrstev (depth distribution analysis):
•   Grimm OES, MS
•   Laserová ablace + ICP MS (ICP OES)
•   Iontové odprašovaní + SIMS, RIMS, Auger, atomová fluorescence
•   Rutherford backscattering spectrometry
Analýzu povrchů (atomární vrstvy):
•   Fotoelektronová spektrometrie - ESCA
•   Spektrometrie energetických ztrát elektronů
•   Field ion microscopy
•   STM (scanning tunneling microscopy)
•   AFM (atomic force microscopy)