F7840 Elektronová mikroskopie a její aplikace při studiu pevných látek

Přírodovědecká fakulta
podzim 2016
Rozsah
2/0/0. 1 kr. (plus ukončení). Ukončení: k.
Vyučující
RNDr. Jiří Buršík, DSc. (přednášející)
prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc. (přednášející), prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc. (zástupce)
Garance
prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc.
Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Kontaktní osoba: RNDr. Jiří Buršík, DSc.
Dodavatelské pracoviště: Ústav fyziky kondenzovaných látek – Fyzikální sekce – Přírodovědecká fakulta
Omezení zápisu do předmětu
Předmět je nabízen i studentům mimo mateřské obory.
Mateřské obory/plány
Cíle předmětu
Studenti se seznámí s principy elektronové mikroskopie, jak transmisní, tak řádkovací. Budou probírány základy teorie zobrazení a difrakce v elektronovém mikroskopu. Pozornost bude věnována i analytickým metodám a novinkám v oblasti elektronové mikroskopie. Přednášky budou doplněny několika praktickými cvičeními u elektronových mikroskopů na pracovišti lektorů.
Osnova
  • Interakce elektronů s pevnou látkou. Typy elektronových mikroskopů. TEM a SEM. Pracovní módy elektronových mikroskopů. Příprava vzorků pro EM. Teorie elektronové difrakce (rozptyl elektronů, elektronová difrakce krystalických a amorfních objektů, bodový a kruhový difraktogram, Braggova rovnice, Ewaldova konstrukce). Kinematická a dynamická teorie kontrastu. Kikuchiho linie. Praktické úlohy TEM. Vysokorozlišovací elektronová mikroskopie (HREM). Simulace obrazu v HREM. Pokročilejší metody elektronové difrakce: mikrodifrakce, difrakce v konvergentním svazku (CBED). Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM). Moderní trendy a metodiky. Analytická elektronová mikroskopie. Praktické ukázky – TEM, SEM+EDX+WDX+EBSD.
Literatura
  • KARLÍK, Miroslav. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie. Vyd. 1. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2011, 321 s. ISBN 9788001047293. info
  • GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003, xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9. info
  • Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis. Edited by Ludwig Reimer. 3. ed. Berlin: Springer, 1993, 545 s. ISBN 3540568492. info
Výukové metody
přednášky, 2-3 praktické lekce
Metody hodnocení
kolokvium
Informace učitele
výuka i praktická cvičení probíhají na Ústavu fyziky materiálů AVČR, Žižkova 22, Brno
Další komentáře
Předmět je dovoleno ukončit i mimo zkouškové období.
Předmět je vyučován jednou za dva roky.
Výuka probíhá každý týden.
S.
Předmět je zařazen také v obdobích podzim 1999, podzim 2010 - akreditace, podzim 2001, podzim 2003, podzim 2004, podzim 2006, podzim 2008, podzim 2010, podzim 2011 - akreditace, podzim 2012, podzim 2014, podzim 2018, podzim 2019, podzim 2020, podzim 2022.