Preparation of sample for measurement. Drift mobility of carriers. Electric conductivity, Hall coefficient and magnetoresistance of semiconductor. Recombination of excess carriers in semiconductor, lifetime of carriers. Temperature dependence of mobility. Termoelectric force in semiconductor. Determination of interstitial oxygen concentration in silicon. Current - voltage charakteristic of p-n junctions. Determination of refraction index and thick of thin layer from reflection spectra. Raman`s spectra of GaAs.
Literature
HLÁVKA, Jan and Luděk BOČÁNEK. Praktikum z fyziky pevných látek. Vyd. 1. Praha: Státní pedagogické nakladatelství, 1990. 103 s. ISBN 80-210-0112-7. info
Assessment methods (in Czech)
Podmínkou pro získání klasifikovaného zápočtu je předložení deseti otestovaných protokolů. Protokoly lse testovat po domluvě s příslušným učitelem.