J 1996

Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers

JERGEL, M. a Václav HOLÝ

Základní údaje

Originální název

Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers

Autoři

JERGEL, M. a Václav HOLÝ

Vydání

J. Mag. Materials, 1996

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Spojené státy

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/96:00000420

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

A1996UV35800049
Změněno: 20. 3. 2000 07:00, prof. RNDr. Václav Holý, CSc.

Návaznosti

MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur