HOLÝ, Václav, A.A. DARHUBER, J. STANGL, S. ZERLAUTH, F. SCHAFFER, G. BAUER, N. DAROWSKI, D. LUBBERT a U. PIETSCH. Coplanar and grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers. Physical Review B. USA: The American Physical Society, 1998, (58)1998, č. 12, s. 7934-7943. ISSN 0163-1829.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Coplanar and grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers
Autoři HOLÝ, Václav, A.A. DARHUBER, J. STANGL, S. ZERLAUTH, F. SCHAFFER, G. BAUER, N. DAROWSKI, D. LUBBERT a U. PIETSCH.
Vydání Physical Review B, USA, The American Physical Society, 1998, 0163-1829.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.842
Kód RIV RIV/00216224:14310/98:00000759
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000076130500069
Klíčová slova anglicky x-ray
Štítky x-ray
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 10. 1. 2000 19:23.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 18. 7. 2024 06:14