STANGL, J., A.A. DARHUBER, Václav HOLÝ, M. DE NAUROIS, S. FERREIRA, W. FASCHINGER a G. BAUER. High-resolutin x-ray diffraction and x-ray reflectivity studies of short-period CdTe/MnTe-superlattices. Journal of crystal growth. Amsterdam: Elsevier Science, 1998, roč. 1998, 184/185, s. 105-108. ISSN 0022-0248.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název High-resolutin x-ray diffraction and x-ray reflectivity studies of short-period CdTe/MnTe-superlattices
Autoři STANGL, J., A.A. DARHUBER, Václav HOLÝ, M. DE NAUROIS, S. FERREIRA, W. FASCHINGER a G. BAUER.
Vydání Journal of crystal growth, Amsterdam, Elsevier Science, 1998, 0022-0248.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.307
Kód RIV RIV/00216224:14310/98:00000764
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky x-ray
Štítky x-ray
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 06:46.
Návaznosti
VS96102, projekt VaVNázev: Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
VytisknoutZobrazeno: 18. 7. 2024 06:10