2002
Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
HOLÝ, Václav, Mojmír MEDUŇA, Tomáš ROCH a Guenther BAUERZákladní údaje
Originální název
Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Autoři
HOLÝ, Václav (203 Česká republika), Mojmír MEDUŇA (203 Česká republika, garant), Tomáš ROCH (703 Slovensko) a Guenther BAUER (300 Řecko)
Vydání
Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie, IOP Publishing Ltd, 2002, 0268-1242
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.241
Kód RIV
RIV/00216224:14310/02:00007670
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000175969200016
Klíčová slova anglicky
Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 31. 1. 2008 14:24, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
Anotace
V originále
Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Návaznosti
GA202/00/0354, projekt VaV |
| ||
MSM 143100002, záměr |
|