J 2002

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

HOLÝ, Václav, Mojmír MEDUŇA, Tomáš ROCH a Guenther BAUER

Základní údaje

Originální název

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Autoři

HOLÝ, Václav (203 Česká republika), Mojmír MEDUŇA (203 Česká republika, garant), Tomáš ROCH (703 Slovensko) a Guenther BAUER (300 Řecko)

Vydání

Semicond. Sci. Technol. Velká Britanie, IOP Publishing Ltd, 2002, 0268-1242

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Článek v odborném periodiku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Velká Británie a Severní Irsko

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Impakt faktor

Impact factor: 1.241

Kód RIV

RIV/00216224:14310/02:00007670

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

UT WoS

000175969200016

Klíčová slova anglicky

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Příznaky

Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 31. 1. 2008 14:24, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

Anotace

V originále

Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Návaznosti

GA202/00/0354, projekt VaV
Název: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
Investor: Grantová agentura ČR, Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
MSM 143100002, záměr
Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur