2006
X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN
LÜBBERT, D., Petr MIKULÍK, P. PERNOT, L. HELFEN, M.D. CRAVEN et. al.Základní údaje
Originální název
X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN
Název česky
Studium rozorientace křídel laterálně přerostlých GaN rtg mikrodifrakčním zobrazováním
Autoři
LÜBBERT, D. (276 Německo), Petr MIKULÍK (276 Německo, garant), P. PERNOT (203 Česká republika), L. HELFEN (276 Německo), M.D. CRAVEN (840 Spojené státy), S. KELLER (840 Spojené státy), S. DENBAARS (840 Spojené státy) a T. BAUMBACH (276 Německo)
Vydání
Physica stat.sol.(a), 2006, 0031-8965
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Německo
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Odkazy
Impakt faktor
Impact factor: 1.221
Kód RIV
RIV/00216224:14310/06:00017349
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
UT WoS
000238034600046
Klíčová slova anglicky
lattice tilt; diffraction; X-ray diffraction; GaN; ELO
Štítky
Příznaky
Mezinárodní význam, Recenzováno
Změněno: 12. 2. 2007 18:36, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
V originále
The crystalline quality in epitaxially laterally overgrown (ELO) GaN and the amount of wing tilt is characterized on a local basis, with high spatial and angular resolution. A method of full-field X-ray microdiffraction imaging, termed rocking curve imaging, is used to record simultaneously a large set of local X-ray diffraction profiles originating from sample surface areas of micrometer size. x-omega maps of diffracted intensity allow to quantify the amount of wing tilt in individual lateral ELO periods as well as to monitor the fluctuations of tilt between adjacent periods. Automated shape analysis of the full set of local rocking curves provides a means to quantitatively characterize the local crystalline perfection of GaN. The ELO window and wing regions can be clearly separated; comparison indicates an average improvement of crystal quality by a factor 3–4 due to the lateral overgrowth process.
Česky
Krystalová kvalita v epitaxně přerostlých (ELO) GaN vrstvách a velikost rozorientace křídel jsou charakterizovány lokálně, s vysokým prostorovým i úhlovým rozlišením. K tomu jsme použili metodu plného zobrazení rtg mikrodifrakčním zobrazením, též zvaného rocking curve imaging (RCI). ELO okna a křídla mohou být jasně separována; srovnání ukazuje na zlepšení krystalinity faktorem 3–4 díky procesu laterálního přerostení.
Návaznosti
MSM0021622410, záměr |
|