X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and
multilayers thickness: preliminary results of the first world
Round-Robin Test

D 2006

X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test

AGNIHOTRI, Dileepa, V. E. ASADCHIKOV, Elza BONTEMPI, Chang-Hwan CHANG, Paolo COLOMBI et. al.

Základní údaje

Originální název

X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test

Název česky

Měření rtg reflexe pro vyhodnocení tloušťky tenkých vrstev a multivrstev: předběžné výsledky prvního světového Round Robin testu

Autoři

AGNIHOTRI, Dileepa (840 Spojené státy), V. E. ASADCHIKOV (643 Rusko), Elza BONTEMPI (380 Itálie), Chang-Hwan CHANG (410 Korejská republika), Paolo COLOMBI (380 Itálie), Laura E. DEPERO (380 Itálie), Mark FARNWORTH (826 Velká Británie a Severní Irsko), Toshiyuki FUJIMOTO (392 Japonsko), Alan GIBAUD (250 Francie), Matej JERGEL (703 Slovensko), D. Keith BOWEN (826 Velká Británie a Severní Irsko), Michael KRUMREY (276 Německo), Alessio LAMPERTI (826 Velká Británie a Severní Irsko), Tamzin A. LAFFORD (826 Velká Británie a Severní Irsko), Richard J MATYI (840 Spojené státy), T. MA (156 Čína), Mojmír MEDUŇA (203 Česká republika, garant), Silvia MILITA (380 Itálie), Kenji SAKURAI (392 Japonsko), Leonid SHABEL'NIKOV (643 Rusko), S. SONI (250 Francie), Alexander ULYANENKOV (276 Německo), A. van der LEE (250 Francie) a Claudia WIEMER (380 Itálie)

Vydání

Karlsruhe, XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, s. 75-75, 2006

Nakladatel

Forchungszentrum Karlsruhe

Další údaje

Jazyk

angličtina

Typ výsledku

Stať ve sborníku

Obor

10302 Condensed matter physics

Stát vydavatele

Německo

Utajení

není předmětem státního či obchodního tajemství

Kód RIV

RIV/00216224:14310/06:00016351

Organizační jednotka

Přírodovědecká fakulta

Klíčová slova anglicky

standartization; x-ray reflectivity

Štítky

standartization, x-ray reflectivity

Příznaky

Mezinárodní význam

Změněno: 24. 1. 2007 13:55, Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

Anotace

ORIG CZ

V originále

A round-robin involving 20 laboratories was started in September 2005 to assess the reproducibility of the spectra and errors in the calculated sample thickness of several specimens of GaAs/GaAl multilayers. Preliminary results were presented and discussed.

Česky

Test round robin byl odstartován v rámci 20 laboratoří v září 2005 za účelem získání reprodukovatelnosti spekter a chyb ve vypočtených tloušťkách vrstev několika vzorků GaAs/GaAl multivrstev. Byly presentovány a diskutovány předběžné výsledky.

Návaznosti

GP202/05/P286, projekt VaV

Název: Studium morfologie polovodičových multivrstev pomocí rtg rozptylu

Investor: Grantová agentura ČR, Studium morfologie polovodičových multivrstev pomocí rtg rozptylu

MSM0021622410, záměr

Název: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur

Citovat

AGNIHOTRI, Dileepa, V. E. ASADCHIKOV, Elza BONTEMPI, Chang-Hwan CHANG, Paolo COLOMBI, Laura E. DEPERO, Mark FARNWORTH, Toshiyuki FUJIMOTO, Alan GIBAUD, Matej JERGEL, D. Keith BOWEN, Michael KRUMREY, Alessio LAMPERTI, Tamzin A. LAFFORD, Richard J MATYI, T. MA, Mojmír MEDUŇA, Silvia MILITA, Kenji SAKURAI, Leonid SHABEL'NIKOV, S. SONI, Alexander ULYANENKOV, A. van der LEE a Claudia WIEMER. X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test. In XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging. Karlsruhe: Forchungszentrum Karlsruhe, 2006, s. 75.

@inproceedings{710325,
   author = {Agnihotri, Dileepa and Asadchikov, V. E. and Bontempi, Elza and Chang, ChangandHwan and Colombi, Paolo and Depero, Laura E. and Farnworth, Mark and Fujimoto, Toshiyuki and Gibaud, Alan and Jergel, Matej and Bowen, D. Keith and Krumrey, Michael and Lamperti, Alessio and Lafford, Tamzin A. and Matyi, Richard J and Ma, T. and Meduňa, Mojmír and Milita, Silvia and Sakurai, Kenji and Shabel'nikov, Leonid and Soni, S. and Ulyanenkov, Alexander and Lee, A. van der and Wiemer, Claudia},
   address = {Karlsruhe},
   booktitle = {XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging},
   keywords = {standartization; x-ray reflectivity},
   language = {eng},
   location = {Karlsruhe},
   pages = {75-75},
   publisher = {Forchungszentrum Karlsruhe},
   title = {X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test},
   year = {2006}
}

TY  - JOUR
ID  - 710325
AU  - Agnihotri, Dileepa - Asadchikov, V. E. - Bontempi, Elza - Chang, Chang-Hwan - Colombi, Paolo - Depero, Laura E. - Farnworth, Mark - Fujimoto, Toshiyuki - Gibaud, Alan - Jergel, Matej - Bowen, D. Keith - Krumrey, Michael - Lamperti, Alessio - Lafford, Tamzin A. - Matyi, Richard J - Ma, T. - Meduňa, Mojmír - Milita, Silvia - Sakurai, Kenji - Shabel'nikov, Leonid - Soni, S. - Ulyanenkov, Alexander - Lee, A. van der - Wiemer, Claudia
PY  - 2006
TI  - X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test
PB  - Forchungszentrum Karlsruhe
CY  - Karlsruhe
KW  - standartization
KW  - x-ray reflectivity
N2  - A round-robin involving 20 laboratories was started in September 2005 to assess the reproducibility of the spectra and errors in the calculated sample thickness of several specimens of GaAs/GaAl multilayers. Preliminary results were presented and discussed.
ER  -

AGNIHOTRI, Dileepa, V. E. ASADCHIKOV, Elza BONTEMPI, Chang-Hwan CHANG, Paolo COLOMBI, Laura E. DEPERO, Mark FARNWORTH, Toshiyuki FUJIMOTO, Alan GIBAUD, Matej JERGEL, D. Keith BOWEN, Michael KRUMREY, Alessio LAMPERTI, Tamzin A. LAFFORD, Richard J MATYI, T. MA, Mojmír MEDUŇA, Silvia MILITA, Kenji SAKURAI, Leonid SHABEL'NIKOV, S. SONI, Alexander ULYANENKOV, A. van der LEE a Claudia WIEMER. X-Ray Reflectivity measurements to evaluate thin films and multilayers thickness: preliminary results of the first world Round-Robin Test. In \textit{XTOP 2006 - 8th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging}. Karlsruhe: Forchungszentrum Karlsruhe, 2006, s.~75.

Podrobný výpis o publikaci