HOLÝ, Václav. X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers. J. Appl. Cryst. 1994, roč. 27, -, s. 551-557.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers
Autoři HOLÝ, Václav.
Vydání J. Appl. Cryst. 1994.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/94:00000012
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 18. 4. 2000 10:28.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 24. 4. 2024 14:45