X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers
HOLÝ, Václav. X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers. J. Appl. Cryst. 1994, roč. 27, -, s. 551-557. |
Další formáty:
BibTeX
LaTeX
RIS
|
Základní údaje | |
---|---|
Originální název | X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers |
Autoři | HOLÝ, Václav. |
Vydání | J. Appl. Cryst. 1994. |
Další údaje | |
---|---|
Originální jazyk | angličtina |
Typ výsledku | Článek v odborném periodiku |
Obor | 10302 Condensed matter physics |
Stát vydavatele | Nizozemské království |
Utajení | není předmětem státního či obchodního tajemství |
Kód RIV | RIV/00216224:14310/94:00000012 |
Organizační jednotka | Přírodovědecká fakulta |
Změnil | Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 18. 4. 2000 10:28. |
Návaznosti | |
---|---|
MSM 143100002, záměr | Název: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur |
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur |
VytisknoutZobrazeno: 24. 4. 2024 14:45