PLOTZ, W. a Václav HOLÝ. X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces. J. Phys. III France 4. 1994, roč. 1994, -, s. 1565-1571.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces
Autoři PLOTZ, W. a Václav HOLÝ.
Vydání J. Phys. III France 4, 1994.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Francie
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/94:00000015
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS A1994PH37300008
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 18. 4. 2000 10:31.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 25. 4. 2024 20:07