HOLÝ, Václav. X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiG /Si superlattices. II Nuovo Cimento. roč. 1997, 19 D, s. 419-428, 1997.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiG /Si superlattices
Autoři HOLÝ, Václav.
Vydání II Nuovo Cimento, 1997.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Itálie
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/97:00000549
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 07:01.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 19. 4. 2024 09:25