LI, J.H. a Václav HOLÝ. Strain relaxation in high electron mobility Si 1-x Ge x/Si structures. J. Appl. Phys. 1997, (82)1997, č. 15, s. 2881-2966. ISSN 0021-8979.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Strain relaxation in high electron mobility Si 1-x Ge x/Si structures
Autoři LI, J.H. a Václav HOLÝ.
Vydání J. Appl. Phys. 1997, 0021-8979.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.630
Kód RIV RIV/00216224:14310/97:00000552
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 20. 3. 2000 07:08.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 10. 5. 2024 23:48