HOLÝ, Václav. Diffuse x-ray reflection from multilayers with rough interfaces. Journal of Materials Science: Materials in Electronics. Great Britain: Kluwer Academic Publishers, 1999, (10)1999, -, s. 223-226. ISSN 0957-4522.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Diffuse x-ray reflection from multilayers with rough interfaces
Autoři HOLÝ, Václav.
Vydání Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Great Britain, Kluwer Academic Publishers, 1999, 0957-4522.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 0.417
Kód RIV RIV/00216224:14310/99:00000036
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000080751500009
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 18. 4. 2000 10:12.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 11. 5. 2024 17:40