STANGL, J., Václav HOLÝ, T. ROCH, A. DANIEL, G. BAUER, J. ZHU, K. BRUNNER a G. ABSTREITER. Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si supertattice. Physical Review B. USA: American Physical Society, roč. 2000, č. 62, s. 7229-7236. ISSN 0163-1829. 2000.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si supertattice
Autoři STANGL, J., Václav HOLÝ, T. ROCH, A. DANIEL, G. BAUER, J. ZHU, K. BRUNNER a G. ABSTREITER.
Vydání Physical Review B, USA, American Physical Society, 2000, 0163-1829.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 3.065
Kód RIV RIV/00216224:14310/00:00002995
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si supertattice
Změnil Změnila: Marta Fědorová, učo 1447. Změněno: 27. 2. 2001 10:13.
Anotace
Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si supertattice
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 20. 4. 2024 03:20