HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH. High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers. Berlin, Heidelberg, New York: Springer Tracts in Modern Physics, 1999, 256 s. Springer-Verlag.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Autoři HOLÝ, Václav, U. PIETSCH a T. BAUMBACH.
Vydání Berlin, Heidelberg, New York, 256 s. Springer-Verlag, 1999.
Nakladatel Springer Tracts in Modern Physics
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Odborná kniha
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Německo
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/99:00002996
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Změnil Změnila: Marta Fědorová, učo 1447. Změněno: 27. 2. 2001 10:23.
Anotace
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films and Multilayers
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 26. 4. 2024 19:28