ROCH, T. a V. HOLY. Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering. physica status solidi (b). Berlin: J. Wiley, roč. 224, č. 1, s. 241-245. ISSN 0370-1972. 2001.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering
Autoři ROCH, T. a V. HOLY.
Vydání physica status solidi (b), Berlin, J. Wiley, 2001, 0370-1972.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Německo
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 0.873
Kód RIV RIV/00216224:14310/01:00004120
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky grazing incidence diffraction
Štítky grazing incidence diffraction
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 16. 1. 2002 08:30.
Anotace
Structural investigations on self-organized Si/SiGe islands by grazing incidence small angle x-ray scattering
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VS96102, projekt VaVNázev: Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Laboratoř tenkých vrstev a nanostruktur
VytisknoutZobrazeno: 19. 4. 2024 22:55