HUMLÍČEK, Josef, Dominik MUNZAR, Karel NAVRÁTIL a Michal LORENC. Polarization anisotropy of photoluminescence from multilayer InAs/GaAs quantum dots. Physica E. Amsterdam: Elsevier Science, 2002, roč. 13, č. 2, s. 229-232. ISSN 1386-9477.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Polarization anisotropy of photoluminescence from multilayer InAs/GaAs quantum dots
Autoři HUMLÍČEK, Josef (203 Česká republika, garant), Dominik MUNZAR (203 Česká republika), Karel NAVRÁTIL (203 Česká republika) a Michal LORENC (203 Česká republika).
Vydání Physica E, Amsterdam, Elsevier Science, 2002, 1386-9477.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Nizozemské království
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.107
Kód RIV RIV/00216224:14310/02:00006541
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000176869100033
Klíčová slova anglicky self-assembled quantum dots; photoluminescence; polarization anisotropy
Štítky PHOTOLUMINESCENCE, polarization anisotropy, self-assembled quantum dots
Změnil Změnil: prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc., učo 307. Změněno: 6. 11. 2003 11:46.
Anotace
We present results of our study of photoluminescence (PL) from multilayer InAs/GaAs quantum dot structures grown by metal organic vapor-phase epitaxy and discuss them in terms of the envelope function approximation. The intensity of the component of the PL signal polarized in the plane parallel to the substrate is substantially higher than that corresponding to the perpendicular polarization. In addition, the former depends on the angle between the electric vector and the direction of elongation of the dots.
Návaznosti
GA202/99/1613, projekt VaVNázev: Kvantové tečky v polovodičích III-V
Investor: Grantová agentura ČR, Kvantové tečky v polovodičích III-V
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 25. 4. 2024 07:37