HOLÝ, Václav, Ullrich PIETSCH a Tilo BAUMBACH. High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures. New York, Berlin, Heidelberg: Springer, 2004, 408 s. Advanced Texts in Physics. ISBN 0387400923.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures
Název česky Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách
Autoři HOLÝ, Václav (203 Česká republika, garant), Ullrich PIETSCH (276 Německo) a Tilo BAUMBACH (276 Německo).
Vydání New York, Berlin, Heidelberg, 408 s. Advanced Texts in Physics, 2004.
Nakladatel Springer
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Odborná kniha
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/04:00010939
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 0387400923
Klíčová slova anglicky High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures
Změnil Změnil: prof. RNDr. Václav Holý, CSc., učo 1656. Změněno: 12. 2. 2007 14:17.
Anotace
High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures
Anotace česky
Rtg rozptyl s vysokýzm rozlišením na tenkých vrstvách a laterálních nanostrukturách
Návaznosti
GA202/00/0354, projekt VaVNázev: Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
Investor: Grantová agentura ČR, Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 19. 9. 2024 16:06