IONTOVÁ MIKROSONDA Vítězslav Otruba ZÁKLADNÍ PROCESY INTERAKCE URYCHLENÝCH IONTŮ SE VZORKEM 2 Schematické znázornění základních procesů probíhajících při ozařování vzorku svazkem urychlených iontů a příslušných metod využitelných pro analýzu vzorku ANALÝZY STRUKTURY A SLOŽENÍ LÁTEK IONTOVÝMI SVAZKY ¢Výhody: semi-nedestruktivní, kvantitativní, rychlé, mnohoprvkové, meze detekce 10-5 -10-6 g/g, hloubkové a stranové rozlišení (nm /μm) ¢Nevýhody: potřeba urychlovače, omezený hloubkový dosah (μm) 3 METODA ELASTICKÉHO ZPĚTNÉHO ROZPTYLU RBS (RUTHERFORD BACKSCATTERING) ¢Využívá většinou urychlené jádra helia (částice alfa) nebo vodíku (protony) v oblasti energií jednotek MeV. Kromě identifikace prvků poskytuje také informace o hloubkovém rozdělení koncentrací (koncentrační limity). ¢Je citlivější pro prvky s vyšším protonovým číslem Z, avšak hmotnostní rozlišení s rostoucím Z klesá. Hloubkové rozlišení se pohybuje v oblasti několika jednotek až desítek nm a dosah v rozsahu stovek nm až jednotek µm. ¢ Princip RBS se dá jednoduše popsat jako —a) ztráta energie iontu závislá na vzdálenosti k místu srážky, ta je daná interakcí s elektronovým obalem míjených atomů —b) ztráta části energie při srážce, ta je funkcí poměru hmot —c) další ztráta energie při cestě zpět k povrchu. 4 ZÁKLADNÍ FYZIKÁLNÍ JEVY RBS ¢kinematický faktor popisuje přenos energie elastické dvojné srážky, závisí na hmotnosti a úhlu, a je založen na základních fyzikálních zákonech zachování energie a impulsu; tento proces umožňuje hmotnostní rozlišení, ¢diferenciální účinný průřez vyjadřuje pravděpodobnost elastické dvojné srážky; jde o proces, který umožňuje kvantitativní určení atomového složení, ¢brzdné působení při průchodu iontu hmotou vzorku, energetické ztráty jsou dány interakcemi mezi iontem, elektrony a jádry atomů vzorku. Závisí tedy na složení vzorku, platí (~) aditivní pravidla; proces umožňující hloubkové rozlišení, ¢statistické fluktuace průchodu iontů hmotou vzorku - energy straggling - statistický charakter/fluktuace brzdných ztrát, roste s rostoucí vzdáleností od povrchu; toto limituje hloubkové a hmotnostní rozlišení úměrně vzdálenosti od povrchu. 5 PRUŽNÁ SRÁŽKA ¢obecné schéma pružné srážky jako východisko pro úvahy zákonů zachování energie a hybnosti 6 vo a Eo znamená rychlost a energii dopadajícího projektilu o hmotě M1, v1 a E1 po odrazu pod úhlem Φ, M2 je hmota odrážejícího atomu ve vzorku ¢Pro kinematický faktor K = E1/ E0 platí vztah (1) odvozený z uvedených zákonů o zachování energie a dvou složek impulsu, je tedy pouze funkcí M1/ M2 a úhlu Φ. Projektil o hmotě stejné nebo větší než atom vzorku nemůže být zpětně odražen. ¢ 7 (1) GEOMETRICKÉ USPOŘÁDÁNÍ RBS 8 A B A – RBS s kolmým dopadem projektilů B – RBS se šikmým dopadem projektilů SCHÉMA APARATURY RBS 9 VAN DE GRAAFFŮV ELEKTROSTATICKÝ URYCHLOVAČ 10 EXPERIMENTÁLNÍ KOMORA PRO SIMULTÁNNÍ MĚŘENÍ METODAMI PIXE, RBS A PESA 11 JEDNODUCHÝ PŘÍKLAD MĚŘENÍ VRSTEV 12 tenká povrchová vrstva má tvar píku s pološířkou odpovídající FWHM detektoru, povrchová hrana určuje prvek (Sn) a plocha píku odpovídá množství, tlustší vrstva dává obdélníkové signály s možností použití poměru ploch, či výšek a šířek. 13 Výsledek zkusmé simulace difuse stříbra do skla, měřeno na protonech 2.3MeV METODA PIXE (PARTICLE INDUCED X-RAY EMISSION) ¢Metoda je založena na produkci charakteristického roentgenova záření svazkem urychlených iontů. ¢Stanovení plošné nebo objemové koncentrace většiny prvků - (C), Mg (Al) - U (K,L linky). ¢Vysoký dynamický rozsah, ppm - 100%. ¢Nízké absolutní meze detekce