NEUSCHITZER, Markus, Armin MOSER, Alfred NEUHOLD, Johanna KRAXNER, Barbara STADLOBER, Martin OEHZELT, Ingo SALZMANN, Roland RESEL a Jiří NOVÁK. Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment. Journal of Applied Crystallography. MALDEN: WILEY-BLACKWELL, roč. 45, s. 367-370. ISSN 0021-8898. doi:10.1107/S0021889812000908. 2012.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Grazing-incidence in-plane X-ray diffraction on ultra-thin organic films using standard laboratory equipment
Autoři NEUSCHITZER, Markus, Armin MOSER, Alfred NEUHOLD, Johanna KRAXNER, Barbara STADLOBER, Martin OEHZELT, Ingo SALZMANN, Roland RESEL a Jiří NOVÁK.
Vydání Journal of Applied Crystallography, MALDEN, WILEY-BLACKWELL, 2012, 0021-8898.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 3.343
Doi http://dx.doi.org/10.1107/S0021889812000908
UT WoS 000302808300029
Změnil Změnil: Mgr. Jiří Novák, Ph.D., učo 23056. Změněno: 27. 9. 2013 11:27.
VytisknoutZobrazeno: 23. 4. 2024 02:53