KLAPETEK, Petr a David NEČAS. Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy. Measurement Science and Technology. Bristol: IOP Pub., 2014, roč. 25, č. 4, s. "nestránkováno", 8 s. ISSN 0957-0233. doi:10.1088/0957-0233/25/4/044009.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy
Název česky Nezávislá analýza mechanických dat z mikroskopie atomové síly
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika) a David NEČAS (203 Česká republika, garant, domácí).
Vydání Measurement Science and Technology, Bristol, IOP Pub. 2014, 0957-0233.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 20201 Electrical and electronic engineering
Stát vydavatele Velká Británie
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW Vydavatel
Impakt faktor Impact factor: 1.433
Kód RIV RIV/00216224:14740/14:00073269
Organizační jednotka Středoevropský technologický institut
Doi http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044009
UT WoS 000332932800010
Klíčová slova česky mikroskopie atomové síly; mechanické vlastnosti; objemová data
Klíčová slova anglicky atomic force microscopy; mechanical properties; volume data
Štítky kontrola MP, rivok
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnila: Martina Prášilová, učo 342282. Změněno: 18. 3. 2015 08:23.
Anotace
Present atomic force microscopes are capable of acquiring large data volumes by point using point force-distance spectroscopic measurements. Even if different trade names and different technical implementations are used, for most of these techniques a force-distance curve in every image pixel is measured, this curve is immediately fitted by some theoretical dependence and results are displayed as a mechanical properties channel (Young modulus, adhesion, etc). Results are processed during the measurement directly in the scanning probe microscopy controller or, after it, by manufacturer provided software. In this paper, we present a software tool for independent numerical processing of such data, including more numerical models for the force–distance curve evaluation and including a simple estimate of uncertainties related to the fitting procedure. This can improve the reliability and the analytical possibilities of mechanical properties mapping methods in an atomic force microscopy.
Anotace česky
Současné AFM mikroskopy dokáží získávat velké objemy dat měřením bodových křivky síla-vzdálenost. Ačkoli se používají různé obchodní známky a různé technické implementace, ve většině technik se měření křivka síla-vzdálenost v každém pixelu obrázku, a tato křivka se okamžitě fituje nějakou teoretickou závislostí a výsledky se zobrazují jako mechanické vlastnosti materiálu (Youngův modul, adheze, etc.). Výsledky se zpracovávají přímo během měření v řídicí jednotce skenující sondy mikroskopu nebo poté softwarem poskytovaným výrobcem. Tento čláínek představuje softwarový nástroj pro nezávislé numerické zpracování takovýchto dat, s použitím více numerických modelů pro vyhodnocení křivky síla-vzdálenost a zahrnující jednoduchý odhad nejistot vztahujících se k fitovací proceduře. To může zlepšit věrohodnost výsledků a možnosti analýzy mechanických vlastností mapovacích módů v mikroskopii atomové síly.
Návaznosti
ED1.1.00/02.0068, projekt VaVNázev: CEITEC - central european institute of technology
TA02010784, projekt VaVNázev: Optimalizace vrstevnatých systémů používaných v optickém průmyslu
Investor: Technologická agentura ČR, Optimalizace vrstevnatých systémů používaných v optickém průmyslu
VytisknoutZobrazeno: 18. 5. 2022 08:03