KLAPETEK, Petr and David NEČAS. Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy. Measurement Science and Technology. Bristol: IOP Pub., 2014, vol. 25, No 4, p. "nestránkováno", 8 pp. ISSN 0957-0233. doi:10.1088/0957-0233/25/4/044009.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy
Name in Czech Nezávislá analýza mechanických dat z mikroskopie atomové síly
Authors KLAPETEK, Petr (203 Czech Republic) and David NEČAS (203 Czech Republic, guarantor, belonging to the institution).
Edition Measurement Science and Technology, Bristol, IOP Pub. 2014, 0957-0233.
Other information
Original language English
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 20201 Electrical and electronic engineering
Country of publisher United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
WWW Vydavatel
Impact factor Impact factor: 1.433
RIV identification code RIV/00216224:14740/14:00073269
Organization unit Central European Institute of Technology
Doi http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044009
UT WoS 000332932800010
Keywords (in Czech) mikroskopie atomové síly; mechanické vlastnosti; objemová data
Keywords in English atomic force microscopy; mechanical properties; volume data
Tags kontrola MP, rivok
Tags International impact, Reviewed
Changed by Changed by: Martina Prášilová, učo 342282. Changed: 18. 3. 2015 08:23.
Abstract
Present atomic force microscopes are capable of acquiring large data volumes by point using point force-distance spectroscopic measurements. Even if different trade names and different technical implementations are used, for most of these techniques a force-distance curve in every image pixel is measured, this curve is immediately fitted by some theoretical dependence and results are displayed as a mechanical properties channel (Young modulus, adhesion, etc). Results are processed during the measurement directly in the scanning probe microscopy controller or, after it, by manufacturer provided software. In this paper, we present a software tool for independent numerical processing of such data, including more numerical models for the force–distance curve evaluation and including a simple estimate of uncertainties related to the fitting procedure. This can improve the reliability and the analytical possibilities of mechanical properties mapping methods in an atomic force microscopy.
Abstract (in Czech)
Současné AFM mikroskopy dokáží získávat velké objemy dat měřením bodových křivky síla-vzdálenost. Ačkoli se používají různé obchodní známky a různé technické implementace, ve většině technik se měření křivka síla-vzdálenost v každém pixelu obrázku, a tato křivka se okamžitě fituje nějakou teoretickou závislostí a výsledky se zobrazují jako mechanické vlastnosti materiálu (Youngův modul, adheze, etc.). Výsledky se zpracovávají přímo během měření v řídicí jednotce skenující sondy mikroskopu nebo poté softwarem poskytovaným výrobcem. Tento čláínek představuje softwarový nástroj pro nezávislé numerické zpracování takovýchto dat, s použitím více numerických modelů pro vyhodnocení křivky síla-vzdálenost a zahrnující jednoduchý odhad nejistot vztahujících se k fitovací proceduře. To může zlepšit věrohodnost výsledků a možnosti analýzy mechanických vlastností mapovacích módů v mikroskopii atomové síly.
Links
ED1.1.00/02.0068, research and development projectName: CEITEC - central european institute of technology
TA02010784, research and development projectName: Optimalizace vrstevnatých systémů používaných v optickém průmyslu
Investor: Technology Agency of the Czech Republic
PrintDisplayed: 2. 12. 2022 16:24