Detailed Information on Publication Record
2014
Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth
FRANK, C., R. BANERJEE, M. OETTEL, A. GERLACH, Jiří NOVÁK et. al.Basic information
Original name
Analysis of island shape evolution from diffuse x-ray scattering of organic thin films and implications for growth
Name in Czech
Analýza vývoje tvaru ostrůvků z Rentgenového difuzního rozptylu na organických tenkých filmech a důsledky pro růst
Authors
FRANK, C. (276 Germany), R. BANERJEE (356 India), M. OETTEL (276 Germany), A. GERLACH (276 Germany), Jiří NOVÁK (203 Czech Republic, guarantor, belonging to the institution), G. SANTORO (620 Portugal) and F. SCHREIBER (276 Germany)
Edition
Physical Review B, College (USA), American Institute of Physics, 2014, 1098-0121
Other information
Language
English
Type of outcome
Článek v odborném periodiku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
United States of America
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
References:
Impact factor
Impact factor: 3.736
RIV identification code
RIV/00216224:14740/14:00077648
Organization unit
Central European Institute of Technology
UT WoS
000345171300007
Keywords (in Czech)
růst tenkých vrstev; růst ostrůvků; organické polovodiče; diinedoperylen; maloúhlový rozptyl rentgenového záření při malém úhlu dopadu; teorie maloúhlového rozptylu
Keywords in English
thin film growth; island formation; organic semiconductors; diindenoperylene; grazing incidence small angle x-ray scattering; small-angle scattering theory
Tags
Tags
International impact, Reviewed
Změněno: 12/3/2015 11:29, Martina Prášilová
V originále
Understanding the growth of organic semiconducting molecules with shape anisotropy is of high relevance to the processing of optoelectronic devices. This work provides insight into the growth of thin films of the prototypical rodlike organic semiconductor diindenoperylene on a microscopic level by analyzing in detail the film morphology. We model our data, which were obtained by high-resolution grazing incidence small-angle x-ray scattering, using a theoretical description from small-angle scattering theory derived for simple liquids. Based on form-factor calculations for different object types, we determine how the island shapes change in the respective layers. Atomic force microscopy measurements approve our findings.
In Czech
Porozumění růstu organických polovodičů s tvarovou anizotropií je důležité pro vývoj optoelektronických součástek. Tato práce přináší na mikroskopické úrovni vhled do růstu tenkých vrstev prototypického organického polovodiče protáhlého tvaru, diindenoperylenu, a to na základě detalní analýzy morfologie. Rentgenová data získaná z maloúhlového rozptylu při malém úhlu dopadu jsou analyzována s použitím teoretického popisu odvozeného z teorie maloúhlového rozptylu na jednoduchých kapalinách. Na základě výpočtů tvarového faktoru pro různé typy objektů jsem určili jak se mění tvar ostrůvků v jednotlivých molekulárních vrstvách. Mikroskopie atomových sil potvrzuje naše výsledky.
Links
| ED1.1.00/02.0068, research and development project |
|