KLAPETEK, Petr, Andrew YACOOT, Petr GROLICH, Miroslav VALTR and David NEČAS. Gwyscan: a library to support non-equidistant Scanning Probe Microscope measurements. Measurement Science and Technology. Bristol: IOP Pub., 2017, vol. 28, No 3, p. nestránkováno, 11 pp. ISSN 0957-0233. Available from: https://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/28/3/034015.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Gwyscan: a library to support non-equidistant Scanning Probe Microscope measurements
Name in Czech Gwyscan: knihovna pro podporu neekvidistaních měření v mikroskopii skenující sondou
Authors KLAPETEK, Petr (203 Czech Republic), Andrew YACOOT (826 United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland), Petr GROLICH (203 Czech Republic), Miroslav VALTR (203 Czech Republic) and David NEČAS (203 Czech Republic, guarantor, belonging to the institution).
Edition Measurement Science and Technology, Bristol, IOP Pub. 2017, 0957-0233.
Other information
Original language English
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
WWW Plný text u vydavatele
Impact factor Impact factor: 1.685
RIV identification code RIV/00216224:14740/17:00100234
Organization unit Central European Institute of Technology
Doi http://dx.doi.org/10.1088/1361-6501/28/3/034015
UT WoS 000394597100010
Keywords (in Czech) SPM; SPM na velké ploše; adaptivní skenování
Keywords in English SPM; large area SPM; adaptive scanning
Tags rivok
Tags International impact, Reviewed
Changed by Changed by: Mgr. David Nečas, Ph.D., učo 19972. Changed: 7/3/2018 13:52.
Abstract
We present a software library and related methodology for enabling easy integration of adaptive step (non-equidistant) scanning techniques into metrological scanning probe microscopes or scanning probe microscopes where individual x, y position data are recorded during measurements. Scanning with adaptive steps can reduce the amount of data collected in SPM measurements thereby leading to faster data acquisition, a smaller amount of data collection required for a specific analytical task and less sensitivity to mechanical and thermal drift. Implementation of adaptive scanning routines into a custom built microscope is not normally an easy task: regular data are much easier to handle for previewing (e.g. levelling) and storage. We present an environment to make implementation of adaptive scanning easier for an instrument developer, specifically taking into account data acquisition approaches that are used in high accuracy microscopes as those developed by National Metrology Institutes. This includes a library with algorithms written in C and LabVIEW for handling data storage, regular mesh preview generation and planning the scan path on basis of different assumptions. A set of modules for Gwyddion open source software for handling these data and for their further analysis is presented. Using this combination of data acquisition and processing tools one can implement adaptive scanning in a relatively easy way into an instrument that was previously measuring on a regular grid. The performance of the presented approach is shown and general non-equidistant data processing steps are discussed.
Abstract (in Czech)
Představujeme softwarovou knihovnu a přidruženou metodiku pro umožnění snadné integrace skenovacích technik s adaptivními kroky (neekvidistantními) do metrologických mikroskopů se skenující sondou nebo mikroskopů se skenující sondou, kde se zaznamenávají jednotlivé x, y polohy dat během měření. Skenování s adaptivními kroky umožňuje snížení množství sbíraných dat během SPM měření, což vede k rychlejšímu získání dat, nižšímu množství dat sebranému pro konkrétní analytický úkol a nižší citlivost k mechanickému a termálnímu driftu. Implementace adaptivních skenovacích procedur do mikroskopu vlastní konstrukce není snadný úkol: s pravidelnými daty je mnohem snazší zacházet během tvorby náhledu (např. srovnání rovinou) a je snazší je ukládat. Představujeme prostředí pro zjednodušení implementace adaptivního skenování pro vývojáře přístrojů, konkrétní bereme v úvahu způsoby získávání dat, které se používají v mikroskopech s vysokou přesností a v mikroskopech vyvíjených národními metrologickými instituty. Zahrnuje knihovnu s algoritmy v jazyce C a LabVIEW pro správu ukládáni dat, generování náhledů v pravidelných mřížkách a plánování cesty skenování na základě různých předpokladů. Sada modulů programu s otevřeným kódem Gwyddion pro práci s těmito daty a jejich další analýzu je též představena. S využitím této kombinace nástrojů pro získání a zpracování dat lze implementovat adaptivní skenování relativně snadno pro přístroj, který dříve měřil v pravidelné mřížce. Je demonstrována účinnost představeného přístupu a obecně diskutovány kroky při zpracování neekvidistantních dat.
Links
LQ1601, research and development projectName: CEITEC 2020 (Acronym: CEITEC2020)
Investor: Ministry of Education, Youth and Sports of the CR
PrintDisplayed: 12/10/2024 22:15