KUČÍRKOVÁ, Assja a Karel NAVRÁTIL. Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films. Applied Spectroscopy. USA: Society Appl. Spectroscopy, roč. 48(1994), č. 1, s. 113-120. ISSN 0003-7028. 1994.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films
Autoři KUČÍRKOVÁ, Assja a Karel NAVRÁTIL.
Vydání Applied Spectroscopy, USA, Society Appl. Spectroscopy, 1994, 0003-7028.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14310/94:00000288
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
Změnil Změnila: doc. RNDr. Assja Kučírková, CSc., učo 2493. Změněno: 20. 5. 1999 10:25.
Návaznosti
MSM 143100002, záměrNázev: Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
VytisknoutZobrazeno: 19. 4. 2024 14:16