HLÁVKA, Jan, Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA. New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films. Thin Solid Films. Oxford, UK: Elsevier science, roč. 279, s. 209-212. ISSN 0040-6090. 1996.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název New Technique of Measurement of Optical Parameters of thin Films
Autoři HLÁVKA, Jan, Ivan OHLÍDAL a František VIŽĎA.
Vydání Thin Solid Films, Oxford, UK, Elsevier science, 1996, 0040-6090.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10301 Atomic, molecular and chemical physics
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS A1996VB37200040
Klíčová slova anglicky Optical properties; Photovoltage; Semiconductors
Štítky Optical properties, Photovoltage, Semiconductors
Změnil Změnil: doc. RNDr. Jan Hlávka, CSc., učo 1555. Změněno: 7. 7. 1999 16:23.
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 19:25