OHLÍDAL, Ivan, Miloslav OHLÍDAL, Daniel FRANTA, Miroslav TYKAL, Dominik PRAŽÁK and Aleš MICHÁLEK. Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou (Comparing the results of measuring surface the roughness which have been achieved by optical methods and by profilometric method). Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1998, vol. 43, No 4, p. 130-136. ISSN 0447-6441.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou
Name (in English) Comparing the results of measuring surface the roughness which have been achieved by optical methods and by profilometric method
Authors OHLÍDAL, Ivan (203 Czech Republic, guarantor), Miloslav OHLÍDAL, Daniel FRANTA (203 Czech Republic), Miroslav TYKAL, Dominik PRAŽÁK and Aleš MICHÁLEK.
Edition Jemná mechanika a optika, Přerov, Physical Institute, ASCR, 1998, 0447-6441.
Other information
Original language Czech
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher Czech Republic
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
WWW URL
RIV identification code RIV/00216224:14310/98:00003189
Organization unit Faculty of Science
Changed by Changed by: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Changed: 21/12/2003 23:11.
Abstract
V tomto článku je provedeno srovnání výsledků dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou při měření různých drsných povrchů pevných látek.
Abstract (in English)
In this paper a comparison of the results obtained with the optical methods chosen and profilometric method at measuring various rough surfaces of solids is performed.
Links
GA202/98/0988, research and development projectName: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Czech Science Foundation, Characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries by means of optical and X - ray methods
PrintDisplayed: 12/9/2024 08:00