Epitaxial growth and characterization of Y2Co17(0001) thin films deposited on W(110)

ROBAUT, F., Petr MIKULÍK, N. CHERIEF, O.F.K. MC GRATH, D. GIVORD, T. BAUMBACH and J.Y. VEUILLEN. Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110). J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 1995, vol. 78, p. 997-1003. ISSN 0021-8979.

Basic information

Original name

Epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110)

Name in Czech

Epitaxní růst a charakterizace tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110)

Authors

ROBAUT, F., Petr MIKULÍK, N. CHERIEF, O.F.K. MC GRATH, D. GIVORD, T. BAUMBACH and J.Y. VEUILLEN

Edition

J. Appl. Phys. USA, American Institute of Physics, 1995, 0021-8979

---

Other information

Language

English

Type of outcome

Článek v odborném periodiku

Field of Study

10302 Condensed matter physics

Country of publisher

United States of America

Confidentiality degree

není předmětem státního či obchodního tajemství

References:

URL

Organization unit

Faculty of Science

Keywords in English

epitaxy; epitaxial growth; x-ray characterization; laser ablation

Tags

epitaxial growth, epitaxy, laser ablation, x-ray characterization

Tags

International impact, Reviewed

---

Abstract

V originále

The paper deals with epitaxial growth and characterization of Y₂Co₁₇(0001) thin films deposited on W(110).

In Czech

Článek se zabývá epitaxním růstem a charakterizací tenkých vrstev Y₂Co₁₇(0001) deponovaných na W(110).