OHLÍDAL, Miloslav, Ivan OHLÍDAL, Miroslav TYKAL, Dominik PRAŽÁK and Marek UNČOVSKÝ. Měření drsnosti povrchu ve strojírenství vybranými metodami koherenční optiky (Measuring the Surface Roughness in Mechanical Engineering by Selected Methods of Coherence Optics). Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1999, vol. 44, No 9, p. 259-267. ISSN 0447-6441.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Měření drsnosti povrchu ve strojírenství vybranými metodami koherenční optiky
Name (in English) Measuring the Surface Roughness in Mechanical Engineering by Selected Methods of Coherence Optics
Authors OHLÍDAL, Miloslav, Ivan OHLÍDAL, Miroslav TYKAL, Dominik PRAŽÁK and Marek UNČOVSKÝ.
Edition Jemná mechanika a optika, Přerov, Physical Institute, ASCR, 1999, 0447-6441.
Other information
Original language Czech
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 10306 Optics
Country of publisher Czech Republic
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
RIV identification code RIV/00216224:14310/99:00003218
Organization unit Faculty of Science
Changed by Changed by: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Changed: 27/2/2001 16:28.
Abstract
V tomto článku si stručně všímáme současného stavu měření drsnosti povrchu ve strojírenství, výhod a nevýhod optických metod měření drsnosti povrchu ve srovnání s měřením drsnosti povrchu pomocí kontaktního profilometru i základních charakteristik drsnosti povrchu z hlediska optických metod.
Abstract (in English)
In this paper a brief review of the methods coherent optics for measuring surface roughness used in engineering industry is presented. Advantages and disadvantages of these methods are discussed. Their comparison with the profilometric method is performed as well.
Links
GA202/98/0988, research and development projectName: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Czech Science Foundation, Characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries by means of optical and X - ray methods
PrintDisplayed: 21/8/2024 07:56