OHLÍDAL, Ivan. Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie (Complete optical characterisation of nonabsorbing double layers and triple layers using multiple angle of incidence ellipsometry). Jemná mechanika a optika. Přerov: Physical Institute, ASCR, 1999, vol. 1999, No 2, p. 53-57. ISSN 0447-6441.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie
Name (in English) Complete optical characterisation of nonabsorbing double layers and triple layers using multiple angle of incidence ellipsometry
Authors OHLÍDAL, Ivan.
Edition Jemná mechanika a optika, Přerov, Physical Institute, ASCR, 1999, 0447-6441.
Other information
Original language Czech
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 10306 Optics
Country of publisher Czech Republic
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
RIV identification code RIV/00216224:14310/99:00003230
Organization unit Faculty of Science
Changed by Changed by: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Changed: 27/2/2001 16:37.
Abstract
V této práci je popsána elipsometrická metoda umožňující určit hodnoty všech optických parametrů, tj. hodnoty indexů lomu a tlouštěk, neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev umístěných na absorbujících podložkách.
Abstract (in English)
In this paper the ellipsometric method enabling us to determine the values of all the optical parameters, ie. the values of the refractive indices and thicknesses, of non-absorbing double layers and triple layers placed onto absorbing substrate is described.
Links
GA202/98/0988, research and development projectName: Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod
Investor: Czech Science Foundation, Characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries by means of optical and X - ray methods
PrintDisplayed: 14/10/2024 10:12