Detailed Information on Publication Record
1997
X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
MIKULÍK, PetrBasic information
Original name
X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
Authors
Edition
151 s. 1997
Other information
Type of outcome
Odborná kniha
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organization unit
Faculty of Science
Tags
International impact, Reviewed
Změněno: 12/2/2007 18:50, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.