B 1997

X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

MIKULÍK, Petr

Basic information

Original name

X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)

Authors

Edition

151 s. 1997

Other information

Type of outcome

Odborná kniha

Confidentiality degree

není předmětem státního či obchodního tajemství

Organization unit

Faculty of Science

Tags

International impact, Reviewed
Změněno: 12/2/2007 18:50, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.