MIKULÍK, Petr. X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.). 1997, 151 s.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name X-ray reflectivity from planar and structured multilayers : Réflectivité des rayons X par des milticouches planaires et structurées (Souběž.) : Rentgenová reflektivita rovinných a strukturovaných multivrstev (Souběž.)
Authors MIKULÍK, Petr.
Edition 151 s. 1997.
Other information
Type of outcome Book on a specialized topic
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
Organization unit Faculty of Science
Tags International impact, Reviewed
Changed by Changed by: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D., učo 855. Changed: 12/2/2007 18:50.
PrintDisplayed: 18/10/2024 01:33