2000
Interface study of a Co/Si/W/Si multilayers with enhanced thermal stability
JERGEL, M.; A. ANOPCHENKO; Václav HOLÝ; V. MAJKOVA; S. LUBY et. al.Základní údaje
Originální název
Interface study of a Co/Si/W/Si multilayers with enhanced thermal stability
Autoři
JERGEL, M.; A. ANOPCHENKO; Václav HOLÝ; V. MAJKOVA; S. LUBY a R. SENDERAK
Vydání
J. Appl. Crystallography, Velká Britanie, Int. Union of Crystallography, 2000, 0021-8898
Další údaje
Jazyk
angličtina
Typ výsledku
Článek v odborném periodiku
Obor
10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele
Velká Británie a Severní Irsko
Utajení
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor
Impact factor: 1.752
Kód RIV
RIV/00216224:14310/00:00003000
Organizační jednotka
Přírodovědecká fakulta
Klíčová slova anglicky
Co/Si/W/Si multilayers with enhanced thermal stability
Změněno: 27. 2. 2001 13:44, Marta Fědorová
Anotace
V originále
Interface study of a Co/Si/W/Si multilayers with enhanced thermal stability
Návaznosti
| MSM 143100002, záměr |
|