KOZUBEK, Stanislav a Michal KOZUBEK. Způsob stanovení vlastností buněk metodou cytometrie s vysokým rozlišením a zařízení pro jeho provádění. Patent. Číslo: 288693. Vydavatel: Úřad průmyslového vlastnictví ČR. Místo vydání: Praha. Název vlastníka: Biofyzikální ústav AV ČR. Datum registrace: 14. 10. 1998. Datum přijetí: 20. 6. 2001. 2001.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Způsob stanovení vlastností buněk metodou cytometrie s vysokým rozlišením a zařízení pro jeho provádění
Název anglicky Determination of cell properties using the method of high-resolution cytometry and the equipment for its realization
Autoři KOZUBEK, Stanislav (203 Česká republika) a Michal KOZUBEK (203 Česká republika, garant).
Vydání Číslo: 288693, Vydavatel: Úřad průmyslového vlastnictví ČR, Místo vydání: Praha, Název vlastníka: Biofyzikální ústav AV ČR, 2001.
Další údaje
Originální jazyk čeština
Typ výsledku Patent
Obor 20200 2.2 Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Kód RIV RIV/00216224:14330/01:00007209
Organizační jednotka Fakulta informatiky
Klíčová slova anglicky high-resolution cytometry
Štítky high-resolution cytometry
Příznaky Recenzováno
Změnil Změnil: prof. RNDr. Michal Kozubek, Ph.D., učo 3740. Změněno: 7. 5. 2010 16:47.
Anotace
Patentová přihláška: Způsob stanovení vlastností buněk metodou cytometrie s vysokým rozlišením a zařízení pro jeho provádění
Anotace anglicky
Patent application: Determination of cell properties using the method of high-resolution cytometry and the equipment for its realization
Návaznosti
GA202/99/P008, projekt VaVNázev: Využití analýzy obrazu při studiu struktury interfázního jádra
Investor: Grantová agentura ČR, Využití analýzy obrazu při studiu struktury interfázního jádra
MSM 143300002, záměrNázev: Využití počítačové analýzy obrazu v optické mikroskopii
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Využití počítačové analýzy obrazu v optické mikroskopii
VytisknoutZobrazeno: 19. 4. 2024 11:20