FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA and Karel NAVRÁTIL. Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů (Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces). In 12. konference českých a slovenských fyziků. Ostrava: Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků, 1996, p. 482-485.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů
Name (in English) Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces
Authors FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA and Karel NAVRÁTIL.
Edition Ostrava, 12. konference českých a slovenských fyziků, p. 482-485, 1996.
Publisher Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků
Other information
Original language Czech
Type of outcome Proceedings paper
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher Czech Republic
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
WWW URL
Organization unit Faculty of Science
Changed by Changed by: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Changed: 19/12/2003 19:19.
Abstract
V tomto příspěvku ukážeme, že vztahy pro elipsometrické parametry a odrazivost odvozené v rámci námi zobecněné Rayleigh-Riceovy teorie (RRT) mohou být využity pro analýzu tenkých vrstev se slabě drsnými rozhraními.
Abstract (in English)
In this contribution we will show that equations for ellipsometric quantities and reflectance derived by us generalized Rayleigh-Rice theory (RRT) can be used for analysis of slightly rough thin layers.
PrintDisplayed: 14/10/2024 10:06