FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA and Karel NAVRÁTIL. Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů (Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces). In 12. konference českých a slovenských fyziků. Ostrava: Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků, 1996, p. 482-485. |
Other formats:
BibTeX
LaTeX
RIS
@inproceedings{484630, author = {Franta, Daniel and Ohlídal, Ivan and Hora, Jaroslav and Navrátil, Karel}, address = {Ostrava}, booktitle = {12. konference českých a slovenských fyziků}, language = {cze}, location = {Ostrava}, pages = {482-485}, publisher = {Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků}, title = {Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů}, url = {http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/KCSF96_482.html}, year = {1996} }
TY - JOUR ID - 484630 AU - Franta, Daniel - Ohlídal, Ivan - Hora, Jaroslav - Navrátil, Karel PY - 1996 TI - Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů PB - Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků CY - Ostrava UR - http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/KCSF96_482.html N2 - V tomto příspěvku ukážeme, že vztahy pro elipsometrické parametry a odrazivost odvozené v rámci námi zobecněné Rayleigh-Riceovy teorie (RRT) mohou být využity pro analýzu tenkých vrstev se slabě drsnými rozhraními. ER -
FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Jaroslav HORA and Karel NAVRÁTIL. Spektroskopická elipsometrie slabě drsných povrchů (Spectroscopic Ellipsometry of Slightly Rough Surfaces). In \textit{12. konference českých a slovenských fyziků}. Ostrava: Fyzikální vědecká sekce Jednoty českých matematiků a fyziků, 1996, p.~482-485.
|