FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Alberto MONTAIGNE-RAMIL, Alberta BONANNI, David STIFTER a Helmut SITTER. Optical characterization of ZnSe thin films. In 19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life. Bellingham, Washington, USA: SPIE - The International Society for Optical Engineering. s. 831-832. ISBN 0-8194-4596-7. 2003.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical characterization of ZnSe thin films
Autoři FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Ivan OHLÍDAL (203 Česká republika), Petr KLAPETEK (203 Česká republika), Alberto MONTAIGNE-RAMIL (192 Kuba), Alberta BONANNI (380 Itálie), David STIFTER (40 Rakousko) a Helmut SITTER (40 Rakousko).
Vydání Bellingham, Washington, USA, 19th Congress of the International Commission for Optics: Optics for the Quality of Life, od s. 831-832, 2 s. 2003.
Nakladatel SPIE - The International Society for Optical Engineering
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Stať ve sborníku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
WWW URL
Kód RIV RIV/00216224:14310/03:00009333
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
ISBN 0-8194-4596-7
UT WoS 000188036900390
Klíčová slova anglicky ZnSe; Optical constants; Ellipsometry
Štítky ellipsometry, optical constants, ZnSe
Změnil Změnil: Mgr. Daniel Franta, Ph.D., učo 2000. Změněno: 2. 2. 2005 19:59.
Anotace
In this paper the optical method based on multisample modification variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) is used to characterize thin films of ZnSe prepared by molecular beam epitaxy onto GaAs single crystal substrates. It is found that this method can be employed for determining the spectral dependences of the optical constants and values of the thicknesses of the films mentioned. Moreover, it is shown that using this method the RMS values of the heights and the values of the correlation length characterizing roughness irregularities of the upper boundaries of the films can be determined as well. The application of the method is illustrated by means of characterizing six samples of the ZnSe-films exhibiting different values of the thicknesses.
Návaznosti
MSM 143100003, záměrNázev: Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
VytisknoutZobrazeno: 28. 3. 2024 19:42