Detailed Information on Publication Record
2004
Correlation between microscopic and macroscopic properties of yttria-stabilized zirconia thin films
HARTMANOVÁ, Marie, Vladislav NAVRÁTIL, Karel NAVRÁTIL, Marian JERGEL, Kateřina GMUCOVA et. al.Basic information
Original name
Correlation between microscopic and macroscopic properties of yttria-stabilized zirconia thin films
Name in Czech
Vztah mezi mikroskopickými a makroskopickými vlastnostmi yttriem stabilizovaných tenkých zirkoniových vrstev
Authors
HARTMANOVÁ, Marie (703 Slovakia), Vladislav NAVRÁTIL (203 Czech Republic, guarantor), Karel NAVRÁTIL (203 Czech Republic), Marian JERGEL (484 Mexico), Kateřina GMUCOVA (703 Slovakia), Fjod Alexandrovič GANDARILLA (484 Mexico), Jan ZEMEK (203 Czech Republic), Sergej CHROMIK (703 Slovakia) and František KUNDRACIK (703 Slovakia)
Edition
I. Teheran, Iran, Physics and Technology of Thin Films IWTF 2003, p. 158-168, 11 pp. 2004
Publisher
World Scientific
Other information
Language
English
Type of outcome
Stať ve sborníku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
Islamic Republic of Iran
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
Organization unit
Faculty of Education
UT WoS
000223358300010
Keywords in English
yttria stabilized zirconia; thin films; microhardness; structure; electrical conductivity.
Změněno: 24/10/2008 14:11, prof. RNDr. Vladislav Navrátil, CSc.
V originále
The physical (optical, mechanical and electrical) parameters of yttria stabilized thin zirconia films are presented. The dependence of these parameters on technology is also studied.
In Czech
V příspěvku jsou uvedeny nejvýznamnější optické, mechanické a elektrické vlastnosti yttriem stabilizovaných zirkoniových tenkých vrstev. Tyto vlastnosti jsou studovány v závislosti na technologii přípravy vrstev.