Detailed Information on Publication Record
2004
Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy
FRANTA, Daniel, Ivan OHLÍDAL, Petr KLAPETEK, Alberto MONTAIGNE-RAMIL, Alberta BONANNI et. al.Basic information
Original name
Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy
Name in Czech
Optické vlastnosti vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií
Authors
FRANTA, Daniel (203 Czech Republic, guarantor), Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic), Petr KLAPETEK (203 Czech Republic), Alberto MONTAIGNE-RAMIL (192 Cuba), Alberta BONANNI (380 Italy), David STIFTER (40 Austria) and Helmut SITTER (40 Austria)
Edition
Thin Solid Films, Oxford, UK, Elsevier, 2004, 0040-6090
Other information
Language
English
Type of outcome
Článek v odborném periodiku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
References:
Impact factor
Impact factor: 1.647
RIV identification code
RIV/00216224:14310/04:00010693
Organization unit
Faculty of Science
UT WoS
000224474500031
Keywords in English
THIN-FILMS; ROUGH BOUNDARIES; SUBSTRATE; GAAS; DEPENDENCE; CONSTANTS
Tags
Změněno: 3/2/2006 17:59, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
V originále
In this paper, the optical properties of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs single crystal substrates are studied using the combined optical method employing a simultaneous interpretation of experimental data obtained by means of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and near-normal spectroscopic rellectometry (NNSR). The spectral dependences of both the optical constants, i.e. the refractive index and extinction coefficient, characterizing these films are presented within the spectral region 230-850 nm. It is shown that the optical properties of the ZnTe epitaxial films depend on the values of their thickness. This conclusion was found using the model of the optical constants exhibiting a profile across these films. A roughness of the upper boundaries of the ZnTe films and the existence of a very thin native oxide layer (NOL) on these boundaries are taken into account within the optical analysis.
In Czech
V článku jsou studovány optické vlastnosti epitaxních vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií na podložky tvořené monokrystalem GaAs pomocí kombinované optické metody využívající současnou interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektroskopickou reflektometrií. Spektrální závislosti obou optických konstant, tj. indexu lomu a extinkčního koeficientu, charakterizující tyto vrstvy jsou uvedeny ve spektrálním intervalu 230-850 nm. Ukázali jsme, že optické vlastnosti vrstev ZnTe závisí na hodnotě jejich tloušťky. Tento závěr byl nalezen pomocí modelu optických konstant vykazujících profil napříč vrstvami. Drsnost horních rozhraní ZnTe vrstev a existence velmi tenkých přirozených oxidových vrstev na těchto rozhraních jsou brány rovněž v úvahu při provedené optické analýze studovaných vrstev.
Links
| GA202/01/1110, research and development project |
| ||
| MSM 143100003, plan (intention) |
|