HUMLÍČEK, Josef. Polarized light and ellipsometry. In Handbook of Ellipsometry. New York: William Andrew Publishing, 2005, p. 3-91. Handbook of Ellipsometry. ISBN 0-8155-1499-9.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Polarized light and ellipsometry
Name in Czech Polarizované světlo a elipsometrie
Authors HUMLÍČEK, Josef (203 Czech Republic, guarantor).
Edition New York, Handbook of Ellipsometry, p. 3-91, 89 pp. Handbook of Ellipsometry, 2005.
Publisher William Andrew Publishing
Other information
Original language English
Type of outcome Chapter(s) of a specialized book
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher United States of America
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
WWW koprodukce William Andrew a Springer-Verlag
RIV identification code RIV/00216224:14310/05:00013590
Organization unit Faculty of Science
ISBN 0-8155-1499-9
Keywords in English polarized light; ellipsometry
Tags ellipsometry, polarized light
Changed by Changed by: prof. RNDr. Josef Humlíček, CSc., učo 307. Changed: 8/4/2010 16:56.
Abstract
A quick guide to ellipsometry: Light waves and photons, Polarization of light, Ellipsometric configurations, Null ellipsometry, Photometric ellipsometry and polarimetry. Maxwell and wave equations: Linear local response, Linear nonlocal response, Dipole moment, susceptibility and inductions, Relationships between optical constants, Wave equation for monochromatic fields, Plane waves in isotropic medium. Representations of Polarization: Representation by ellipsometric angles, Special cases - linear and circular polarization, Orthogonal polarization states, Representation by complex numbers, Light intensity, detection of polarization state. Propagation of polarized light: Jones vectors, Jones matrices, Quantum mechanical description, partial polarization, Stokes vectors, Mueller matrices. Reflection and transmission of polarized light at planar interfaces: Matching plane waves at a planar interface, Fresnel coeffcients, Special values of the angle of incidence, Ratio of amplitude reflectivities.
Abstract (in Czech)
Stručný průvodce elipsometrií: světelné vlny a fotony, polarizace světla, elipsometrické konfigurace, nulová elipsometrie, fotometrická elipsometrie a polarimetrie. Maxwellovy a vlnová rovnice" lineární lokální odezva, lineární nelokální odezva, dipólový moment, susceptibilita a indukce, vztehy mezi optickými konstantami, vlnová rovnice pro monochromatická pole, rovinné vlny v izotropním prostředí. Reprezentace polarizace: reprezentace elipsometrickými úhly, speciální případy - lineární a kruhová polarizace, ofrtogonální polarizační stavy, reprezentace komplexními čísly, intenzita světla, detekce polarizačního stavu. Šíření polarizovaného světla: Jonesovy vektory, Jonesovy matice, kvantový popis, částečná polarizace, Stokesovy vektory, Muellerovy matice. Odraz a průchod polarizovaného světla rovinnými rozhraními: vlny na rovinném rozhraní, Fresnelovy koeficienty, speciální hodnoty úhlu dopadu, poměr amplitudových odrazivostí, přenosové matice, vrstevnaté struktury, soustava substrát-vrstva-okolí.
Links
MSM0021622410, plan (intention)Name: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministry of Education, Youth and Sports of the CR, Physical and chemical properties of advanced materials and structures
PrintDisplayed: 27/9/2024 20:14