Detailed Information on Publication Record
2005
Analytical electron microscopy of plasma deposited carbon nanostructures
BURŠÍK, Jiří, Marek ELIÁŠ, Ondřej JAŠEK, Vít KUDRLE, Martin BUBLAN et. al.Basic information
Original name
Analytical electron microscopy of plasma deposited carbon nanostructures
Name in Czech
Analýza uhlíkovým nanostruktur připravných v plazmatu elektronovou mikroskopií
Authors
BURŠÍK, Jiří (203 Czech Republic), Marek ELIÁŠ (203 Czech Republic), Ondřej JAŠEK (203 Czech Republic), Vít KUDRLE (203 Czech Republic), Martin BUBLAN (203 Czech Republic) and Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Czech Republic, guarantor)
Edition
1. vyd. Portiroz, Proceedings of 7th Multinational Congress on Microscopy, p. 321-322, 2 pp. 2005
Publisher
Jožef Stefan Institute
Other information
Language
English
Type of outcome
Stať ve sborníku
Field of Study
10305 Fluids and plasma physics
Country of publisher
Slovenia
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
RIV identification code
RIV/00216224:14310/05:00012991
Organization unit
Faculty of Science
ISBN
961-6303
Keywords in English
electron microscopy; carbon nanostructures; plasma
Tags
International impact
Změněno: 5/1/2007 12:49, prof. Mgr. Vít Kudrle, Ph.D.
V originále
Carbon nanostructures studied in this work were prepared by two methods. In both cases they were grown on Si substrates with Fe catalysts. As a first method, microwave plasma torch at atmospheric pressure was used, in second case CNTs were grown employing an inductively coupled plasma chemical vapor deposition (ICP-PVD). For microstructural studies, a Jeol JSM 6460 scanning electron microscope (SEM) with an Oxford Instruments INCA Energy analyser (EDX) and a Philips CM12 STEM transmission electron microscope (TEM) with an EDAX analyser were used.
In Czech
Studované uhlíkové nanostruktury byly připraveny na substrátech Si s tenkou vrstvou katalyzátoru Fe dvěma PECVD metodami. V prvním případě šlo o mikrovlnný výboj za atmosférického tlaku v druhém pak induktivně vázaný vysokofrekvenční výboj. Ke studiu mikrostruktury byl použit skenovací elektronový mikroskop Jeol 6460 s EDX analyzátorem INCA a transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 s EDAX analyzátorem.
Links
GA202/05/0607, research and development project |
| ||
MSM 143100003, plan (intention) |
|