Detailed Information on Publication Record
2005
Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
MISTRÍK, Jan, Tomuo YAMAGUCHI, Daniel FRANTA, Ivan OHLÍDAL, Gu Jin HU et. al.Basic information
Original name
Optical properties of slightly rough LaNiO3 thin films studied by spectroscopic ellipsometry and reflectometry
Name in Czech
Optické vlastnosti jemně drsných tenkých vrstev LaNiO3 studovaných spektroskopickou elipsometrií a reflektometrií
Authors
MISTRÍK, Jan (203 Czech Republic), Tomuo YAMAGUCHI (392 Japan), Daniel FRANTA (203 Czech Republic, guarantor), Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic), Gu Jin HU (156 China) and Ning DAI (156 China)
Edition
Applied Surface Science, USA, ELSEVIER (NORTH-HOLLAND), 2005, 0169-4332
Other information
Language
English
Type of outcome
Článek v odborném periodiku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
United States of America
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
References:
Impact factor
Impact factor: 1.263
RIV identification code
RIV/00216224:14310/05:00014774
Organization unit
Faculty of Science
UT WoS
000228600200099
Keywords in English
Ellipsometry; Reflectometry; Optical constants; LNO; LaNiO3
Tags
Změněno: 3/2/2006 17:48, Mgr. Daniel Franta, Ph.D.
V originále
Optical characterization of sol-gel deposited lanthanum nickel oxide, LaNiO3 (LNO) film on Pt-coated Si substrate was performed by spectroscopic ellipsometry and reflectometry. The sum of five Lorentz oscillators was used for LNO dispersion parameterization in spectral range from 190 to 1000 nm. Two theoretical approaches: Raileigh-Rice theory (RRT) and effective medium approximation (EMA) were considered to account for the effect of LNO upper boundary roughness. Root mean square (rms) values of the heights of irregularities obtained by atomic force microscopy (AFM) and RRT were 2.09 and 5.62 nm, respectively. Effective layer thickness in EMA approach was found to be 4.62 nm. Higher values of roughness determined from optical methods with respect to the AFM may be assigned to the effect of convolution of AFM tip and boundary irregularities.
In Czech
Optická charakterizace vrstev LaNiO3 (LNO) deponovaných sol-gel metodou na podložky Si pokryté Pt byla provedena pomocí spektroskopické elipsometrie a reflektometrie. Součet pěti Lorentzových oscilátorů byl užit pro dispersní parametrizaci LNO ve spektrálním oboru 190-1000 nm. Dva teoretic képřístupy: Rayleigh-Riceova teorie (RRT) a aproximace efektivního prostředí (EMA) byly uvažovány při započtení vlivu drsnosti rozhraní. RMS hodnoty výšek nepravidelností obdržené pomocí mikroskopie atomové síly (AFM) a RRT byly 2.09 a 5.62 nm. Tloušťka efektivní vrstvy v rámci přístupu EMA byla zjištěna v hodnotě 4.62 nm. Vyšší hodnoty drsnosti určené pomocí optické metody vzhledem k AFM mohou být vysvětleny efektem konvoluce hrotu AFM a nepravidelností rozhraní.
Links
| MSM 143100003, plan (intention) |
|