Detailed Information on Publication Record
2005
Application of the wavelet transformation in AFM data analysis
KLAPETEK, Petr and Ivan OHLÍDALBasic information
Original name
Application of the wavelet transformation in AFM data analysis
Name in Czech
Aplikace waveletové transformace při
analýze AFM dat
Authors
KLAPETEK, Petr (203 Czech Republic) and Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic, guarantor)
Edition
Acta Physica Slovaca, Bratislava, Institute of Physics, SAS, 2005, 0323-0465
Other information
Language
English
Type of outcome
Článek v odborném periodiku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
Slovakia
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
Impact factor
Impact factor: 0.359
RIV identification code
RIV/00216224:14310/05:00013548
Organization unit
Faculty of Science
Keywords in English
AFM; Wavelet transform
Tags
Změněno: 28/2/2006 18:33, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
V originále
In this article the possibilities of the wavelet transform use within atomic force microscopy data processing are presented. Both discrete and continuous wavelet transform is used for different processing and analytical purposes including denoising, AFM scan error detection, background removal and multifractal analysis. It is shown that the use of wavelet transform can be very effective within AFM data analysis, namely for highly irregular data.
In Czech
V tomto článku jsou presentovány možnosti využití waveletové transformace při analýze AFM dat. Pro analytické účely jsou použity obě transformace, tj. diskrétní i spojitá waveletová transformace, spolu s s procesem pro odstranění šumu, detekce chyb, odstranění pozadí a vícefraktálové analýz. Je ukázáno, že užití waveletové transformace může být v rámci AFM analýzy efektivní a to zvláště pro velmi nepravidelná data.
Links
FT-TA/094, research and development project |
| ||
MSM 143100003, plan (intention) |
|