KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL and Jindřich BÍLEK. Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces. In Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range. Weinheim 2005: Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA, 2005, p. 452-462. ISBN 3-527-40502-X.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces
Name in Czech Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu vlastností náhodně drsných povrchů
Authors KLAPETEK, Petr (203 Czech Republic), Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic, guarantor) and Jindřich BÍLEK (203 Czech Republic).
Edition Weinheim 2005, Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range, p. 452-462, 11 pp. 2005.
Publisher Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA
Other information
Original language English
Type of outcome Proceedings paper
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher Germany
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
RIV identification code RIV/00216224:14310/05:00015082
Organization unit Faculty of Science
ISBN 3-527-40502-X
Keywords in English AFM
Tags AFM
Changed by Changed by: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc., učo 2397. Changed: 28/2/2006 20:00.
Abstract
In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractal and multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness
Abstract (in Czech)
V této kapitole jsou studovány metody fraktálové a multi-fraktálové analýzy z hlediska charakterizace jejich efektivity při hodnocení fraktálových vlastností náhodně drsných povrchů. Navíc jsou zde uvedeny výsledky týkající se odhadu vlivu hrotu mikroskopu na určení fraktálových vlastností drsných povrchů. Náhodně drsné povrchy jsou simulovány pomocí metody spektrální syntézy a AFM konvoluce hrotu se simulovaným povrchem je provedena numericky. Výsledky fraktálové analýzy před a po konvoluci jsou srovnány. Je ukázáno, že mohou být pozorovány významné nesrovnalosti mezi těmito rozdílnými metodami fraktálové analýzy aplikovanými na simulovaná data. Tato skutečnost je platná zvláště, když data jsou dána do konvoluce s hrotem s relativně velkým vrcholem poloměru ve srovnání s objekty vytvářejícími povrchovou drsnost.
Links
MSM0021622411, plan (intention)Name: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministry of Education, Youth and Sports of the CR, Study and application of plasma chemical reactions in non-isothermic low temperature plasma and its interaction with solid surface
PrintDisplayed: 7/8/2024 01:33