Detailed Information on Publication Record
2005
Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces
KLAPETEK, Petr, Ivan OHLÍDAL and Jindřich BÍLEKBasic information
Original name
Atomic Force Microscope Tip Influence on
the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough
Surafaces
Name in Czech
Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu
vlastností náhodně drsných povrchů
Authors
KLAPETEK, Petr (203 Czech Republic), Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic, guarantor) and Jindřich BÍLEK (203 Czech Republic)
Edition
Weinheim 2005, Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and
Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range, p. 452-462, 11 pp. 2005
Publisher
Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA
Other information
Language
English
Type of outcome
Stať ve sborníku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
Germany
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
RIV identification code
RIV/00216224:14310/05:00015082
Organization unit
Faculty of Science
ISBN
3-527-40502-X
Keywords in English
AFM
Tags
Změněno: 28/2/2006 20:00, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
V originále
In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractal and multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness
In Czech
V této kapitole jsou studovány metody fraktálové a multi-fraktálové analýzy z hlediska charakterizace jejich efektivity při hodnocení fraktálových vlastností náhodně drsných povrchů. Navíc jsou zde uvedeny výsledky týkající se odhadu vlivu hrotu mikroskopu na určení fraktálových vlastností drsných povrchů. Náhodně drsné povrchy jsou simulovány pomocí metody spektrální syntézy a AFM konvoluce hrotu se simulovaným povrchem je provedena numericky. Výsledky fraktálové analýzy před a po konvoluci jsou srovnány. Je ukázáno, že mohou být pozorovány významné nesrovnalosti mezi těmito rozdílnými metodami fraktálové analýzy aplikovanými na simulovaná data. Tato skutečnost je platná zvláště, když data jsou dána do konvoluce s hrotem s relativně velkým vrcholem poloměru ve srovnání s objekty vytvářejícími povrchovou drsnost.
Links
| MSM0021622411, plan (intention) |
|