Detailed Information on Publication Record
2005
Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement
OHLÍDAL, Miloslav, L. ŠÍR, M. JÁKL and Ivan OHLÍDALBasic information
Original name
Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement
Name in Czech
Digitální dvousvazková holografická interferenční mikroskopie měření drsností povrchů
Authors
OHLÍDAL, Miloslav (203 Czech Republic), L. ŠÍR (203 Czech Republic), M. JÁKL (203 Czech Republic) and Ivan OHLÍDAL (203 Czech Republic, guarantor)
Edition
Bellingham, Washington, USA, Proceedings of SPIE 5945, 14th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics, p. 59450I-1-59450I-8, 8 pp. 2005
Publisher
SPIE - The International Society for Optical Engineering
Other information
Language
English
Type of outcome
Stať ve sborníku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
United States of America
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
RIV identification code
RIV/00216224:14310/05:00013301
Organization unit
Faculty of Science
ISBN
0-8194-5958-8
Keywords in English
Holography; Interference; Surface roughness; Metrology
Změněno: 2/3/2006 15:21, prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
V originále
A new approach to surface roughness measurement based on the digital two-wavelength holographic interference microscopy with the synthetic wavelength is presented. Two holograms of a rough surface are recorded step by step at two wavelengths of laser light by means of a CCD camera. Both holograms are numerically superposed and then reconstructed. Two reconstructed digital waves obtained numerically interfere. The surface roughness parameters can be determined from the shape of interference fringes in that interferogram created. The range of measurable height irregularities of the surface is given by the synthetic wavelength, which is indirectly proportional to the difference of the selected wavelengths.
In Czech
Je prezentován nový přístup k měření drsnosti povrchu založený na použití digitální dvouvlnové holografické interferenční mikroskopie se syntetickou vlnovou délkou. Dva hologramy náhodně drsného povrchu jsou postupně při dvou vlnových délkách zaznamenány CCD kamerou. Digitální součet obou hologramů je numericky rekonstruován. Rekonstruované digitální vlny spolu numericky interferují. Parametry měřeného drsného povrchu mohou být určeny z tvaru proužků ve vzniklém digitálním interferogramu. Rozsah měřitelné drsnosti povrchu je určen syntetickou vlnovou délkou, která je nepřímo úměrná rozdílu použitých vlnových délek.
Links
| GA101/01/1104, research and development project |
|