Detailed Information on Publication Record
2008
Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
LÜBBERT, D., T. BAUMBACH, Václav HOLÝ, Petr MIKULÍK, L. HELFEN et. al.Basic information
Original name
Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples
Name in Czech
Mikrodifrakční zobrazování hustoty dislokaci v mikrostrukturních vzorcích
Authors
LÜBBERT, D. (276 Germany), T. BAUMBACH (276 Germany), Václav HOLÝ (203 Czech Republic), Petr MIKULÍK (203 Czech Republic, guarantor), L. HELFEN (276 Germany), P. PERNOT (203 Czech Republic), M. ELLYAN (275 Palestine, State of), S. KELLER (840 United States of America), T.M. KATONA (840 United States of America), S.P. DENBAARS (840 United States of America) and J. SPECK (840 United States of America)
Edition
Europhysics Letters, Paríž, European Physical Society, 2008, 0295-5075
Other information
Language
English
Type of outcome
Článek v odborném periodiku
Field of Study
10302 Condensed matter physics
Country of publisher
United Kingdom of Great Britain and Northern Ireland
Confidentiality degree
není předmětem státního či obchodního tajemství
References:
Impact factor
Impact factor: 2.203
RIV identification code
RIV/00216224:14310/08:00026031
Organization unit
Faculty of Science
UT WoS
000256301100016
Keywords in English
X-ray diffraction; X-ray topography; Microdiffraction; Rocking curve imaging; Dislocations; GaN
Tags
Tags
International impact, Reviewed
Změněno: 10/7/2009 10:22, doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.
V originále
A full field X-ray microdiffraction technique is developed providing simultaneously both micrometer-resolved information of crystalline perfection as well as statistical information about the macroscopically illuminated sample. The method allows a detailed characterization of patterned substrates grown by epitaxial lateral overgrowth. Local wing tilts and their fluctuation over the sample area as well as the local and average number of grains in the wings are determined, and the reduction of threading dislocation densities in the grains of the ELO wings can be quantitatively estimated.
In Czech
Vyvinuli jsme rtg mikrodifrakční metodu, která umožňuje současně mikrometrové laterální rozlišení strukturní dokonalosti krystalu, stejně jako získání statické informace o makroskopicky ozářeném vzorku. Metoda dovoluje detailní charakterizaci tvarovaných substrátů pokrytých epitaxní vrstvou. Metoda umožňuje analyzovat lokální rozorientaci krystalitů a zrn na ozářené ploše vzorku a dále kvalitativně odhadnout hustotu dislokací v zrnech.
Links
| MSM0021622410, plan (intention) |
|