Informační systém MU
FRANTA, Daniel, Lenka ZAJÍČKOVÁ, Monika KARÁSKOVÁ, Ondřej JAŠEK, David NEČAS, Petr KLAPETEK a Miroslav VALTR. Optical Characterization of Ultrananocrystalline Diamond Films. Diamond and Related Materials. New York: Elsevier, 2008, roč. 17, č. 1, s. 1278–1282. ISSN 0925-9635.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Optical Characterization of Ultrananocrystalline Diamond Films
Název česky Optická charakterizace ultrananokrystalických diamantových vrstev
Autoři FRANTA, Daniel (203 Česká republika, garant), Lenka ZAJÍČKOVÁ (203 Česká republika), Monika KARÁSKOVÁ (203 Česká republika), Ondřej JAŠEK (203 Česká republika), David NEČAS (203 Česká republika), Petr KLAPETEK (203 Česká republika) a Miroslav VALTR (203 Česká republika).
Vydání Diamond and Related Materials, New York, Elsevier, 2008, 0925-9635.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10302 Condensed matter physics
Stát vydavatele Spojené státy
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 2.092
Kód RIV RIV/00216224:14310/08:00024370
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000259598300048
Klíčová slova anglicky Nanocrystalline carbon; Optical properties characterization; Band structure
Štítky Band structure, Nanocrystalline carbon, Optical properties characterization
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Ondřej Jašek, Ph.D., učo 8533. Změněno: 24. 6. 2009 16:12.
Anotace
Optical properties of the ultrananocrystalline diamond films were studied by multisample method based on the combination of variable angle spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry applied in the range 0.6-6.5 eV. The films were deposited by PECVD in a conventional bell jar (ASTeX type) reactor using dual frequency discharge, microwave cavity plasma and radio frequency plasma inducing dc self-bias at a substrate holder. The optical model of the samples included a surface roughness described by the Rayleigh-Rice theory and a refractive index profile in which Drude approximation was used. The results conformed with the present understanding of the polycrystalline diamond growth on the silicon substrate because the existence of silicon carbide and amorphous hydrogenated carbon film between the silicon substrate and nucleation layer was proved.
Anotace česky
Optical properties of the ultrananocrystalline diamond films were studied by multisample method based on the combination of variable angle spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry applied in the range 0.6-6.5 eV. The films were deposited by PECVD in a conventional bell jar (ASTeX type) reactor using dual frequency discharge, microwave cavity plasma and radio frequency plasma inducing dc self-bias at a substrate holder. The optical model of the samples included a surface roughness described by the Rayleigh-Rice theory and a refractive index profile in which Drude approximation was used. The results conformed with the present understanding of the polycrystalline diamond growth on the silicon substrate because the existence of silicon carbide and amorphous hydrogenated carbon film between the silicon substrate and nucleation layer was proved.
Návaznosti
GA202/05/0607, projekt VaVNázev: Příprava uhlíkových mikro- a nanostruktur plazmovými technologiemi
Investor: Grantová agentura ČR, Příprava uhlíkových mikro- a nanostruktur plazmovými technologiemi
KAN311610701, projekt VaVNázev: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
Investor: Akademie věd ČR, Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
MSM0021622411, záměrNázev: Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Investor: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR, Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek
Zobrazeno: 15. 5. 2024 07:35