KLAPETEK, Petr a Miroslav VALTR. Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units. Surface and Interface Analysis. 2010, roč. 42/2010, č. 6, 5 s. ISSN 1096-9918.
Další formáty:   BibTeX LaTeX RIS
Základní údaje
Originální název Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units
Autoři KLAPETEK, Petr (203 Česká republika, garant) a Miroslav VALTR (203 Česká republika).
Vydání Surface and Interface Analysis, 2010, 1096-9918.
Další údaje
Originální jazyk angličtina
Typ výsledku Článek v odborném periodiku
Obor 10306 Optics
Stát vydavatele Česká republika
Utajení není předmětem státního či obchodního tajemství
Impakt faktor Impact factor: 1.249
Kód RIV RIV/00216224:14310/10:00040193
Organizační jednotka Přírodovědecká fakulta
UT WoS 000281149700142
Klíčová slova anglicky scanning near-field optical microscopy; finite difference in time domain; graphics processing unit
Příznaky Mezinárodní význam, Recenzováno
Změnil Změnil: Mgr. Miroslav Valtr, Ph.D., učo 13715. Změněno: 21. 7. 2010 10:10.
Anotace
Scanning near-field optical microscopy(NSOM)is a perspective method for local analysis of optical parameters of nanostructures used in electro-optics, photonics and many other field of research. One of the approaches to determine the effects of topography on optical data is to simulate NSOM images using an electromagnetic field modeling method, e.g. finite difference in time domain method. However, this approach is extremely slow, as full electromagnetic field propagation calculation must be run for each pixel of the resulting simulated image. In this paper, we present a fast method for computing simulated NSOM images based on the use of a graphics processing unit (GPU or computer graphics card) in order to speed up the computations. We will show that the large speedup using this approach (more than 40 times) allows us to simulate images in a time comparable to their real measurement, which increases the possibilities of quantitative analysis using NSOM. Data simulated by a GPU will be compared with those of real measurements as well.
Návaznosti
FT-TA3/142, projekt VaVNázev: Analýza optických vlastností solárních článků.
Investor: Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR, Analýza optických vlastností solárních článků
KAN311610701, projekt VaVNázev: Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
Investor: Akademie věd ČR, Nanometrologie využívající metod rastrovací sondové mikroskopie
VytisknoutZobrazeno: 10. 10. 2024 22:20