RACK, A., T. WEITKAMP, M. RIOTTE, D. GRIGORIEV, T. RACK, L. HELFEN, T. BAUMBACH, R. DIETSCH, T. HOLZ, M. KRÄMER, F. SIEWERT, Mojmír MEDUŇA, P. CLOETENS and E. ZIEGLER. Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging. Journal of Synchrotron Radiation. USA: WILEY-BLACKWELL PUBLISHING, 2010, vol. 17, No 4, p. 496-510. ISSN 0909-0495.
Other formats:   BibTeX LaTeX RIS
Basic information
Original name Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging
Name in Czech Srovnávací studie multivrstev používaných v monochromátorech pro rtg zobrazování pomocí koherentního tvrdého synchrotronového záření
Authors RACK, A. (276 Germany), T. WEITKAMP (276 Germany), M. RIOTTE (276 Germany), D. GRIGORIEV (276 Germany), T. RACK (276 Germany), L. HELFEN (276 Germany), T. BAUMBACH (276 Germany), R. DIETSCH (276 Germany), T. HOLZ (276 Germany), M. KRÄMER (276 Germany), F. SIEWERT (276 Germany), Mojmír MEDUŇA (203 Czech Republic, guarantor, belonging to the institution), P. CLOETENS (276 Germany) and E. ZIEGLER (276 Germany).
Edition Journal of Synchrotron Radiation, USA, WILEY-BLACKWELL PUBLISHING, 2010, 0909-0495.
Other information
Original language English
Type of outcome Article in a journal
Field of Study 10302 Condensed matter physics
Country of publisher United States of America
Confidentiality degree is not subject to a state or trade secret
Impact factor Impact factor: 2.335
RIV identification code RIV/00216224:14310/10:00046553
Organization unit Faculty of Science
UT WoS 000278885500009
Keywords in English multilayer mirrors; X-rays; X-ray optics; coherence; X-ray monochromators; X-ray imaging; X-ray phase contrast
Changed by Changed by: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D., učo 7898. Changed: 16/1/2013 14:08.
Abstract
A systematic study is presented in which multilayers of different composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicity (from 2.5 to 5.5 nm) and number of layers have been characterized. In particular, the intrinsic quality (roughness and reflectivity) as well as the performance (homogeneity and coherence of the outgoing beam) as a monochromator for synchrotron radiation hard X-ray micro-imaging are investigated. The results indicate that the material composition is the dominating factor for the performance.
Abstract (in Czech)
Byla prezentována systematická studie, ve které byly charakterizovány multivrstvy s různým složením (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C), periodicitou (od2.5 do 5.5 nm) a počtem vrstev. Konkrétně byly studovány intrinsická kvalita (drsnost a odrazivost) a výkon (koherence a homogenita) vycházejícího paprsku z monochromátoru pro synchrotronové záření při mikrozobrazování tvrdým rtg zářením. Výsledky ukazují, že materiálové složení je dominující faktor pro výkon.
Links
GA202/09/1013, research and development projectName: Nukleace a růst kyslíkových precipitátů v křemíku
Investor: Czech Science Foundation, Nucleation and growth of oxygen precipitates in silicon
MSM0021622410, plan (intention)Name: Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur
Investor: Ministry of Education, Youth and Sports of the CR, Physical and chemical properties of advanced materials and structures
PrintDisplayed: 2/5/2024 04:50